ARRANGEMENT FOR REPEATED TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICES FOR SECONDARY BREAKTHROUGH,申请号SU19742061694-传众专利搜索

发明名称	ARRANGEMENT FOR REPEATED TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICES FOR SECONDARY BREAKTHROUGH
摘要
申请公布号	SU603924(A1)	申请公布日期	1978.04.25
申请号	SU19742061694	申请日期	1974.09.24
申请人	GOROKHOV VOALIMIR S,SU;KOROBKOV GEORGIJ K,SU;KOROBKOV NIKOLAJ G,SU;PETROV BORIS K,SU	发明人	GOROKHOV VOALIMIR S,SU;KOROBKOV GEORGIJ K,SU;KOROBKOV NIKOLAJ G,SU;PETROV BORIS K,SU
分类号	G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26	主分类号	G01R31/26
代理机构		代理人
主权项
地址