Scanning charged beam particle beam microscope,申请号US19760710420-传众专利搜索

首页产品黄页商标征信

会员服务注册登录

法人/股东/高管

发明名称	Scanning charged beam particle beam microscope
摘要
申请公布号	USRE29500(E)	申请公布日期	1977.12.20
申请号	US19760710420	申请日期	1976.08.02
申请人		发明人
分类号	G21K1/02;H01J37/04;H01J37/05;H01J37/244;H01J37/28	主分类号	G21K1/02
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利

Fremgangsmåde til amplifikation ved anvendelse af intermediære renatureringstrin

Substituerede quinuclidiner som substans P-antagonister

Tablet med forbedret biotilgængelighed indeholdende dichlormethylendiphosphonsyre som virksomt stof

Fremgangsmåde til fremstilling af levobupivacain og analoger deraf

Epothilon-bikomponenter

Anordning til termisk behandling af viskose brændstoffer til forbrændingskraftmaskiner

6-substituerede-tetrahydrobenz[cd]indoler.

Fremgangsmåde og indretning til behandling af kodede informationer med et chipkort

Ventilindretning

Fremgangsmåde og indretning til fremstilling af madolie ud fra rapsfrø

Fremgangsmåde til fremstilling af hydroxamsyrer

Stabil lægemiddelform med benzimidazolderivater som aktivt stof til oral indgivelse og fremgangsmåde til fremstilling deraf

Vægtet åben-sløjfe effektstyring i et tidsdelt dupleks kommunikationssystem

Substituerede phenylderivater, deres fremstilling og anvendelse

Fremgangsmåde til fremstilling af esterblødgørere

Dihydrobenzofuran og beslægtede forbindelser anvendelige som antiinflammatoriske midler

Erstatningsterapi til dental caries

Fremgangsmåde til afsvovling og decarbonisering

Manipulationsvisende lukkeindretning med fastholdt bånd

Kuppelformet trykbeholder samt fremgangsmåde til optimering af samme.