发明名称 制造具有凹闸之半导体元件之方法
摘要 一种制造半导体元件之方法,包含:形成第一凹槽于基板中;形成电浆氧化物层于该包含该第一凹槽之基板上方;蚀刻该电浆氧化物层,以使该电浆氧化物层之一部分留在该第一凹槽之侧壁上;及藉由等向蚀刻该第一凹槽之底部形成第二凹槽,其中该第二凹槽具有一宽度,其大于该第一凹槽之宽度。
申请公布号 TW200830430 申请公布日期 2008.07.16
申请号 TW096141155 申请日期 2007.11.01
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 金明玉
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L21/8242(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;丁国隆
主权项
地址 韩国
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