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发明名称 VORRICHTUNG ZUM MESSEN VON UNDICHTHEITEN IN SYSTEMEN
摘要
申请公布号 DE7529794(U) 申请公布日期 1977.12.01
申请号 DE19750029794U 申请日期 1975.09.20
申请人 BARTSCH, WALTER, 5000 KOELN 发明人
分类号 F17D5/02;(IPC1-7):F17D5/02 主分类号 F17D5/02
代理机构 代理人
主权项
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