发明名称 REGISTER TEST METHOD
摘要 PURPOSE:To achieve reduction of test execution time without adding costly circuit at all, by securing the digit transfer action performed by the test register.
申请公布号 JPS52129211(A) 申请公布日期 1977.10.29
申请号 JP19760044986 申请日期 1976.04.22
申请人 NIPPON ELECTRIC CO 发明人 FUKUMOTO AKIRA
分类号 H04M3/26;H04M3/32 主分类号 H04M3/26
代理机构 代理人
主权项
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