首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 CHARGED PARTICLE BEAM SCANNING UNIT
摘要
申请公布号 JPS52122075(A) 申请公布日期 1977.10.13
申请号 JP19760011202 申请日期 1976.02.04
申请人 TEXAS INSTRUMENTS INC 发明人 WAANAA KAACHISU SUKOTSUTO
分类号 H04N5/68;H01J29/46;H01J31/12;H01J31/16 主分类号 H04N5/68
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com