发明名称 TEST METHOD AND APPARATUS FOR TESTING THE GOOD QUALITY OF SEMICONDUCTOR DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 HU170862(B) 申请公布日期 1977.09.28
申请号 HU1974MO00900 申请日期 1974.03.26
申请人 MODEL, EVGENIA I.,SU;SAVINA, ANNA S.,SU;NUROV, JURY L.,SU;PIORUNSKY, ALEXANDR N.,SU;FEDOROV, BORIS E.,SU;IVANOV, VLADIMIR M.,SU 发明人 MODEL, EVGENIA I.,SU;SAVANA, ANNA S.,SU;NUROV, JURY L.,SU;PIORUNSKY, ALEXANDR N.,SU;FEDOROV, BORIS E.,SU;IVANOV, VLADIMIR M.,SU
分类号 G01N27/02 主分类号 G01N27/02
代理机构 代理人
主权项
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