| 发明名称 |
DISPLAY TEST CIRCUIT FOR DISPLAY CIRCUIT |
| 摘要 |
PURPOSE:To detect the faulty diode easily as well as to restore the lamp circuit efficiently, thus increasing practical evaluation. |
| 申请公布号 |
JPS52106297(A) |
申请公布日期 |
1977.09.06 |
| 申请号 |
JP19760022188 |
申请日期 |
1976.03.03 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
KUBA HAKARU |
| 分类号 |
G09F13/20;G08B5/00;G09F13/28;H05B37/03 |
主分类号 |
G09F13/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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