| 发明名称 |
TESTING UNIT OF INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5299734(A) |
申请公布日期 |
1977.08.22 |
| 申请号 |
JP19760016714 |
申请日期 |
1976.02.18 |
| 申请人 |
TOKYO SHIBAURA ELECTRIC CO |
发明人 |
SHIROSAKA SUMITOSHI |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/00;G01R31/26;G01R31/3183;G06F11/22 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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