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发明名称 VERFAHREN ZUM KALIBRIEREN VON SCHICHTDICKENMESSGERAETEN
摘要
申请公布号 DE2558897(A1) 申请公布日期 1977.07.07
申请号 DE19752558897 申请日期 1975.12.27
申请人 ELEKTRO-PHYSIK HANS NIX & DR.-ING.E.STEINGROEVER KG 发明人 STEINGROEVER,ERICH,DR.-ING.;NIX,HANS
分类号 G01B7/06;(IPC1-7):G01B7/10 主分类号 G01B7/06
代理机构 代理人
主权项
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