发明名称 TEST PIECE RETAINING UNIT FOR ELECTRONIC MICROSCOPE
摘要
申请公布号 JPS5271166(A) 申请公布日期 1977.06.14
申请号 JP19750146434 申请日期 1975.12.10
申请人 HITACHI LTD 发明人 ISHIKAWA KIYOSHI;FUJITA HIROSHI;TABATA TEIZOU
分类号 H01J37/20 主分类号 H01J37/20
代理机构 代理人
主权项
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