| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT |
| 摘要 |
PURPOSE:A semiconductor test equipment. which greatly increased test efficiency for IC memory element, etc. which requires a long test time with great number. |
| 申请公布号 |
JPS5250128(A) |
申请公布日期 |
1977.04.21 |
| 申请号 |
JP19750125953 |
申请日期 |
1975.10.21 |
| 申请人 |
TOKYO SHIBAURA ELECTRIC CO |
发明人 |
FURUYA SEIICHI |
| 分类号 |
G11C11/413;G01R31/28;G06F11/22;G11C7/24;G11C29/00;G11C29/56 |
主分类号 |
G11C11/413 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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