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经营范围
发明名称
METHOD OF MESURING THERMAL RESISTANCE OF IMPATT DIODE
摘要
申请公布号
JPS5244573(A)
申请公布日期
1977.04.07
申请号
JP19750120434
申请日期
1975.10.06
申请人
MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人
NISHITANI KAZUO;ISHIHARA OSAMU;SAWANO HIROSHI;MITSUI SHIGERU
分类号
G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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