发明名称 KONTAKTVORRICHTUNG FUER EINE MESSANORDNUNG ZUR DYNAMISCHEN MESSUNG VON HALBLEITERPARAMETERN
摘要
申请公布号 DE1910314(B2) 申请公布日期 1977.03.17
申请号 DE19691910314 申请日期 1969.02.28
申请人 发明人
分类号 G01R1/073;(IPC1-7):H01R11/18 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
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