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经营范围
发明名称
IC TESTING METHOD
摘要
申请公布号
JPS5230174(A)
申请公布日期
1977.03.07
申请号
JP19750105918
申请日期
1975.09.03
申请人
HITACHI LTD
发明人
MINAMIMURA EIJI;INOUE FUMITO
分类号
G01R31/26;H01L21/66
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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