| 发明名称 |
METHOD OF MEASURING ALLOY QUANTITIES IN PLATING LAYER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5224588(A) |
申请公布日期 |
1977.02.24 |
| 申请号 |
JP19750100944 |
申请日期 |
1975.08.20 |
| 申请人 |
SHIN NIPPON SEITETSU KK |
发明人 |
NAGANUMA YOUICHI;TAKAHASHI HIDEO;UCHIDA MASATO;SATOU SHIYUUICHI |
| 分类号 |
G01B7/06;G01B21/00;G01K5/00;G01K13/00;G01N25/02;G01N33/20 |
主分类号 |
G01B7/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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