发明名称 具有高移除速率和低缺陷率的对氧化物和氮化物有选择性的CMP组合物
摘要 本发明提供化学-机械抛光组合物,其含有:氧化铈研磨剂、一种或多种非离子型聚合物、任选的一种或多种膦酸、任选的一种或多种含氮两性离子化合物、任选的一种或多种磺酸共聚物、任选的一种或多种阴离子共聚物、任选的一种或多种包含季胺的聚合物、任选的一种或多种调节所述抛光组合物的pH的化合物、水、以及任选的一种或多种添加剂。本发明进一步提供利用本发明化学-机械抛光组合物化学-机械抛光基材的方法。典型地,所述基材含有氧化硅、氮化硅和/或多晶硅。
申请公布号 CN104284960B 申请公布日期 2016.08.31
申请号 CN201380024465.4 申请日期 2013.03.14
申请人 嘉柏微电子材料股份公司 发明人 B.赖斯;G.怀特纳
分类号 C09K3/14(2006.01)I;H01L21/306(2006.01)I 主分类号 C09K3/14(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 宋莉;王华芹
主权项 一种化学‑机械抛光组合物,其由以下组成:(a)氧化铈研磨剂,(b)选自如下的一种或多种非离子型聚合物:聚亚烷基二醇、聚醚胺、聚环氧乙烷/聚环氧丙烷共聚物、聚丙烯酰胺、聚乙烯基吡咯烷酮、硅氧烷聚环氧烷烃共聚物、经疏水改性的聚丙烯酸酯共聚物、亲水的非离子型聚合物、多醣、及其混合物,(c)吡啶甲酸,(d)任选的一种或多种膦酸,(e)任选的一种或多种磺酸共聚物,(f)一种或多种阴离子共聚物,(g)任选的一种或多种包含季胺的聚合物,(h)任选的一种或多种调节所述抛光组合物的pH的化合物,和(i)水。
地址 美国伊利诺伊州