发明名称 |
具有高移除速率和低缺陷率的对氧化物和氮化物有选择性的CMP组合物 |
摘要 |
本发明提供化学-机械抛光组合物,其含有:氧化铈研磨剂、一种或多种非离子型聚合物、任选的一种或多种膦酸、任选的一种或多种含氮两性离子化合物、任选的一种或多种磺酸共聚物、任选的一种或多种阴离子共聚物、任选的一种或多种包含季胺的聚合物、任选的一种或多种调节所述抛光组合物的pH的化合物、水、以及任选的一种或多种添加剂。本发明进一步提供利用本发明化学-机械抛光组合物化学-机械抛光基材的方法。典型地,所述基材含有氧化硅、氮化硅和/或多晶硅。 |
申请公布号 |
CN104284960B |
申请公布日期 |
2016.08.31 |
申请号 |
CN201380024465.4 |
申请日期 |
2013.03.14 |
申请人 |
嘉柏微电子材料股份公司 |
发明人 |
B.赖斯;G.怀特纳 |
分类号 |
C09K3/14(2006.01)I;H01L21/306(2006.01)I |
主分类号 |
C09K3/14(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
宋莉;王华芹 |
主权项 |
一种化学‑机械抛光组合物,其由以下组成:(a)氧化铈研磨剂,(b)选自如下的一种或多种非离子型聚合物:聚亚烷基二醇、聚醚胺、聚环氧乙烷/聚环氧丙烷共聚物、聚丙烯酰胺、聚乙烯基吡咯烷酮、硅氧烷聚环氧烷烃共聚物、经疏水改性的聚丙烯酸酯共聚物、亲水的非离子型聚合物、多醣、及其混合物,(c)吡啶甲酸,(d)任选的一种或多种膦酸,(e)任选的一种或多种磺酸共聚物,(f)一种或多种阴离子共聚物,(g)任选的一种或多种包含季胺的聚合物,(h)任选的一种或多种调节所述抛光组合物的pH的化合物,和(i)水。 |
地址 |
美国伊利诺伊州 |