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发明名称 DATA GENERATING SYSTEM FOR IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH0511024(A) 申请公布日期 1993.01.19
申请号 JP19910161273 申请日期 1991.07.02
申请人 NEC CORP 发明人 ARAI MASAHIRO
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G11C29/10 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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