发明名称 |
反光材料生产过程中玻璃微珠沉降率的检测方法 |
摘要 |
本发明公开了反光材料生产过程中玻璃微珠沉降率的检测方法,其检测步骤为:a.在植株膜生产线上对植珠膜进行取样,用立体显微镜对取样得到的植珠膜表面进行扫描,获取玻璃微珠外露部分的完整扫描图像;b.在扫描图像上,用立体显微镜获取从单个玻璃微珠中心处向下剖开的剖面图;c.在剖面图上选择一段平滑圆弧,用立体显微镜测量获取平滑圆弧的弦长L以及弦高h;d.根据公式<img file="755563dest_path_image001.GIF" wi="70" he="39" />计算出单个玻璃微珠的半径R;e.在剖面图上用立体显微镜测量获取单个玻璃微珠外露部分的高度H;f.根据公式<img file="168090dest_path_image002.GIF" wi="164" he="37" />计算出单个玻璃微珠的沉降率。该方法不会破坏植珠膜表面玻璃微珠的原始结构,能精确地测算出植珠膜上单个玻璃微珠的沉降率,大大减小了测算误差。 |
申请公布号 |
CN104280322B |
申请公布日期 |
2016.08.17 |
申请号 |
CN201410564008.0 |
申请日期 |
2014.10.22 |
申请人 |
浙江龙游道明光学有限公司 |
发明人 |
邵嘎;王宏;孙飞;杨桂萍;孟祥佳;王隆辉 |
分类号 |
G01N15/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/04(2006.01)I |
代理机构 |
杭州之江专利事务所(普通合伙) 33216 |
代理人 |
张费微 |
主权项 |
反光材料生产过程中玻璃微珠沉降率的检测方法,其特征在于:其检测步骤为:a.在植珠膜生产线上对植珠膜进行取样,用立体显微镜对取样得到的植珠膜表面进行扫描,获取玻璃微珠外露部分的完整扫描图像;b.在步骤a中的扫描图像上,用立体显微镜获取从单个玻璃微珠中心处向下剖开的剖面图;c.在步骤b获取的剖面图上选择一段平滑圆弧,用立体显微镜测量获取平滑圆弧的弦长L以及弦高h;d.根据公式<img file="367056dest_path_image001.GIF" wi="71" he="40" />计算出单个玻璃微珠的半径R;e.在步骤b获取的剖面图上用立体显微镜测量获取单个玻璃微珠外露部分的高度H;f.根据公式<img file="696406dest_path_image002.GIF" wi="167" he="42" />计算出单个玻璃微珠的沉降率。 |
地址 |
324400 浙江省衢州市龙游县东华街道城南工业新城兴业大道7号 |