发明名称 利用影像之区域分割而检测缺陷
摘要 本发明之目的系抑制由于缺陷之检测对象的形状造成缺陷之检测处理量的增大。本发明之解决手段系对具有多个色区域之检查对象物进行摄影。依照色别对利用摄影所获得之检查对象物的彩色影像进行区域分割。从该区域分割结果取得用以表示特定区域之形状的被检查影像。然后,使被检查影像和比较影像进行比对,用来检测与特定区域有关之缺陷。
申请公布号 TWI255338 申请公布日期 2006.05.21
申请号 TW094119560 申请日期 2005.06.14
申请人 大斯克琳制造股份有限公司 发明人 永田泰史;今村淳志;佐野洋
分类号 G01N21/88 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人 赖经臣 台北市松山区南京东路3段346号1112室;宿希成 台北市松山区南京东路3段346号1112室
主权项 1.一种检测方法,系使用对具有多个色区域之检查 对象物进行摄影之彩色影像,检测与上述多个色区 域中之特定区域有关之缺陷的方法,其包含有如下 步骤: (a)依照色别,对上述彩色影像进行区域分割; (b)从上述区域分割之结果,取得表示上述特定区域 之形状之被检查影像;和 (c)经由使上述被检查影像、及能与上述被检查影 像之至少一部份比对之比较影像进行比对,用来检 测与上述特定区域有关之缺陷。 2.如申请专利范围第1项之方法,其中,上述步骤(c) 包含: (1)取得上述比较影像,作为表示上述特定区域之标 准形状之影像的步骤; (2)根据上述被检查影像和上述比较影像,取得用以 表示上述特定区域之形状和上述标准形状之差异 之比较结果影像的步骤;和 (3)经由评估上述比较结果影像,用来检测与上述特 定区域有关之缺陷的步骤。 3.如申请专利范围第2项之方法,其中,上述步骤(2) 包含经由进行上述被检查影像和上述比较影像之 逻辑演算,用来取得上述比较结果影像之步骤。 4.如申请专利范围第3项之方法,其中,上述逻辑演 算系互斥逻辑和之演算。 5.如申请专利范围第4项之方法,其中,上述步骤(3) 包含经由评估上述比较结果影像中之上述被检查 影像和上述比较影像不同之缺陷区域的面积,用来 检测与上述特定区域有关之缺陷的步骤。 6.如申请专利范围第4项之方法,其中,上述步骤(3) 包含当上述特定区域形状之大小与上述标准形状 之大小不同之情况时,经由评估在上述比较结果影 像出现之线状区域之幅度,用来检测与上述特定区 域有关之缺陷的步骤。 7.如申请专利范围第4项之方法,其中,上述步骤(3) 包含经由评估上述比较结果影像中之上述被检查 影像和上述比较影像不同之缺陷区域的数目,用来 检测与上述特定区域有关之缺陷的步骤。 8.如申请专利范围第2项之方法,其中,上述步骤(2) 包含取得上述被检查影像和上述比较影像互异之 相对移动量中,上述被检查影像和上述比较影像之 位置偏差成为最小的最佳移动量,同时依照上述最 佳移动量变更上述被检查影像和上述比较影像之 相对位置的步骤。 9.如申请专利范围第1项之方法,其中,上述步骤(c) 包含: 从上述区域分割之结果取得上述比较影像,作为表 示与上述特定区域不同之色区域之形状之影像的 步骤; 从上述比较影像,抽出具有上述特定区域所应有之 特定形状之对应区域的步骤;和 使上述被检查影像内之上述特定区域、及上述比 较影像内之上述对应区域进行比对,用来检测与上 述特定区域有关之缺陷的步骤。 10.如申请专利范围第1至9项中任一项之方法,其中, 上述检查对象物系印刷基板,上述特定区域系设在 上述印刷基板上之通孔。 11.一种检测装置,系使用对具有多个色区域之检查 对象物进行摄影之彩色影像,检测与上述多个色区 域中之特定区域有关之缺陷的装置,其具备有: 区域分割部,其依照色别对上述彩色影像进行区域 分割; 被检查影像取得部,其从上述区域分割之结果,取 得表示上述特定区域之形状的被检查影像;和 缺陷检测部,其经由使上述被检查影像、及与上述 被检查影像之至少一部份比对之比较影像进行比 对,用来检测与上述特定区域有关之缺陷。 12.如申请专利范围第11项之装置,其中,上述缺陷检 测部包含: 标准形状影像取得部,其取得上述比较影像,作为 表示上述特定区域之标准形状之影像; 比较结果影像取得部,其根据上述被检查影像和上 述比较影像,取得用以表示上述特定区域形状与上 述标准形状之差异的比较结果影像;和 比较结果影像评估部,其经由评估上述比较结果影 像,用来检测与上述特定区域有关之缺陷。 13.如申请专利范围第11项之装置,其中,上述缺陷检 测部包含: 非特定区域影像取得部,其从上述区域分割之结果 ,取得上述比较影像,作为表示与上述特定区域不 同之色区域之形状的影像; 对应区域抽出部,其从上述比较影像,抽出具有上 述特定区域所应有之特定形状之对应区域;和 影像比对部,其使上述被检查影像内之上述特定区 域、及上述比较影像内之上述对应区域进行比对, 用来检测与上述特定区域有关之缺陷。 14.如申请专利范围第11至13项中任一项之装置,其 中,上述检查对象物系印刷基板,上述特定区域系 设在上述印刷基板上之通孔。 图式简单说明: 图1是说明图,用来表示本发明之一实施例之印刷 基板检查装置100之构造。 图2是说明图,用来表示没有缺陷之印刷基板PCB之 样子。 图3是流程图,用来表示第1实施例之印刷基板PCB检 查步骤。 图4(a)、(b)是说明图,用来表示印刷基板PCB之彩色 影像IM1其区域分割结果SR1。 图5(a)-(f)是说明图,用来表示第1实施例之印刷基板 PCB之检查之样子。 图6是流程图,用来表示第2实施例之印刷基板PCB检 查步骤。 图7(a)、(b)是说明图,用来表示印刷基板PCB之彩色 影像IM2和其区域分割结果SR2。 图8(a)-(f)是说明图,用来表示第2实施例之印刷基板 PCB之检查之样子。
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