摘要 |
SE PRESENTA UN APARATO PARA MEDIR LA CURVATURA DE UNA SUPERFICIE QUE COMPRENDE AL MENOS UNA FUENTE DE RADIACION ELECTROMAGNETICA, MEDIOS DETECTORES DE LA RADIACION ELECTROMAGNETICA, UN CONJUNTO DE LENTES POSICIONADAS Y DISPUESTAS PARA ENFOCAR LA RADIACION DE LA FUENTE REFLEJADA SOBRE DICHA SUPERFICIE SOBRE LOS MENCIONADOS MEDIOS DE DETECCION, EL APARATO SE CARACTERIZA EN QUE LOS MEDIOS DETECTORES ESTAN DISPUESTOS PARA SUMINISTRAR UNA SEÑAL DE SALIDA CARACTERISTICA DE UNA POSICION DE LOS MISMOS EN LA QUE LA RADIACION ES INCIDENTE Y MEDIOS PROCESADORES DE LA SEÑAL SENSIBLES A DICHA SEÑAL DE SALIDA PARA SUMINISTRAR UNA INDICACION RELATIVA A LA CURVATURA DE LA MENCIONADA SUPERFICIE.
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