发明名称 影像形成装置及其自修复方法
摘要 本案装置具备多数感测器装置1a、1b、1c及包括有状况记忆体17与工作答案记忆部份18之系统控制电路10。从感测器装置1a、1b、1c响应适用之状况数据,使状况数据变换为信号。然后对此信号加以评监以判断故障是否存在,并列出故障徵象。以此判断结果,将储存在状况记忆体17之许多状况取出,以模拟故障状况,并侦测出接近于标的机器目前状态之状况,再根据侦测之状况执行修复工作。
申请公布号 TW226447 申请公布日期 1994.07.11
申请号 TW080107143 申请日期 1991.09.10
申请人 三田工业股份有限公司 发明人 下村芳树;吉川弘之;梅田靖;富山哲男
分类号 G06F15/62 主分类号 G06F15/62
代理机构 代理人 洪武雄 台北巿城中区武昌街一段六十四号八楼;陈灿晖 台北巿城中区武昌街一段六十四号八楼
主权项 1﹒一种影像形成装置,具备自修复功能,包括有多数个相互关系之元件;此相互关系元件包括:感光体,系藉电子摄影方式形成影像带电装置,系令上述感光体带电至规定电位;曝光装置,系使因上述带电装置而带电至规定电位之感光体藉用以形成影像之对应光线曝光;显像装置,系用以对上述曝光装置曝光后之感光体赋与碳粉;复印装置,系将利用上述显像装置赋与碳粉而形成在感光体上之碳粉影像复印于纸张上;多数致动器,至少包括得以控制上述带电装置所产生之感光体带电电位、曝光装置所产生之曝光强度、显影装置所产生之碳粉赋与浓度等;多数感测器装置,至少得以测定上述感光体之带电电位、曝光装置之曝光强度、复印于纸张后之碳粉浓度等而输出影像形成装置之状态资料;记忆体装置,包括:第一记忆体,系用以储存代表装置之各种特性的特性数据,代表装置的元件间相互关系的相互关系数据,和诊断知识;第二记忆体,系用以储存修复状况知识;第三记忆体,系用以储存修复工作答案知识;诊断装置,系基于来自感测器装置之装置状态资料,储存于上述记忆体装置之特性数据和诊断知识的条件数据,决定装置是否在一个正常或不正常条件;修复计划推论装置,系响应于诊断装置决定装置是在不正常条件下,从修复状况知识推论一个修复状况,并且从工作答案知识推论工作答案,以提供修复计划选择一个致动器元件,影响装置的操作;及修复实施装置,系令上述修复计划推论装置所推论之修复状况及工作答案知识所选择之致动器动作,俾使装置回复至正常状态。2﹒如申请专利范围第1项之影像形成装置,其中之修复状况知识系组织成修复状况,其每一个包括先前修复条件数据和工作指标和工作答案知识被知组成工作答案,其每一个列出一个工作影响一个致动器元件。3﹒如申请专利范围第2项之影像形成装置,其中之该系统包括转换装置,从感测器装置转换条件数据成为符号数据;诊断装置,从转换装置提供符号数据和诊断知识决定装置的条件。4﹒如申请专利范围第3项之影像形成装置,其中之诊断装置包括:监别一个故障徵象的装置;故障模拟装置,系基于相互关系知识和从转换装置来的符号数据,监别一个故障;和修复计划推论装置,系基于利用表徵监别装置监别的一个故障徵象,和利用故障模拟装置监别的一个故障原因,而选择一个修复状况。5﹒如申请专利范围第4项之影像形成装置,其中之该推论装置,系相比较于一个被选择修复状况的先前修复条件数据,和从感测器装置的条件数据;且比较于利用选择修复状况的工作指标指示一个工作之相关的工作先前数据,和从感测器装置的条件数据。6﹒如申请专利范围第5项之影像形成装置,其中之该推论装置,系推论另一个工作以影响一个致动器元件,改变从感测器接收到条件数据,使其相同于被选择修复状况指示工作的相关工作先前数据,常被选择修复状况的先前修复条件数据不同于所接收条件数据,和指示工作相关先前数据不同于所接收条件收据时。7﹒如申请专利范围第6项之影像形成装置,其中之该推论装置,系推论引起一个指示或一个推论工作失败的一个失败原因,并且此后推论修正工作。8﹒如申请专利范围第7项之影像形成装置,其中之该推论失败原因和修正工作,推论装置检索所有修复状况,具有先前修复条件数据,系不同于某些接收条件数据,和通用于所有检索状况;并且此后在选择工作答案中选择安置一个修正工作,以影响一个致动器元件,使得不同接收条件数据,变得相同于在检索状况它的相关数据。9﹒如申请专利范围第8项之影像形成装置,其中假如修正工作成功地执行,沿着利用选择修复状况指示之其余工作;推论装置基于选择修复状况,修正工作的执行前接收条件数据,和此修正工作推论一个新的修复状况。10﹒如申请专利范围第9项之影像形成装置,其中该推论装置,系基于修正工作的执行前接收条件数据,和此修正工作推论一个新的工作答案。11﹒如申请专利范围第10项之影像形成装置,其中之该系统进一步包括更新装置,系更新某些特性数据,其基于感测器装置提供条件数据,在装置回到它的正常条件后更新。12﹒如申请专利范围第11项之影像形成装置,其中之特性数据包括参考値数据,并且相互关系知识包括数学模型知识。13﹒如申请专利范围第12项之影像形成装置,其中参考値数据系代表装置元件的相关参数期望操作范围;更新装置,系参数落在它原始期望操作范围之外,在装置回到它的正常条件后,改变原来期望操作范围到一个新期望操作范围。14﹒如申请专利范围第4项之影像形成装置,其中之修复计划推论装置,系基于先前修复条件数据和接收条件数据,依优先次序选择修复状况。15﹒如申请专利范围第4项之影像形成装置,其中之修复计划推论装置,进一步基于状况成功率和失败率优先选择修复状况。16﹒一种影像形成装置,具备自修复功能,包括有多数个相互关系之元件;此等相互关系元件包括:感光体,系藉电子摄影方式形成影像带电装置,系令上述感光体带电至规定电位;曝光装置,系使因上述带电装置而带电至规定电位之感光体藉用以形成影像之对应光线曝光;显像装置,系用以对上述曝光装置曝光后之感光体赋与碳粉;复印装置,系将利用上述显像装置赋与碳粉而形成在感光体上之碳粉影像复印于纸张上;多数致动器,至少包括得以控制上述带电装置所产生之感光体带电电位、曝光装置所产生之曝光强度、显影装置所产生之碳粉赋与浓度等;多数感测器装置,至少得以测定上述感光体之带电电位、曝光装置之曝光强度、复印于纸张后之碳粉浓度等而输出影像形成装置之状态资料;记忆体装置,包括:第一记忆体,系用以储存代表装置之各种特性的特性数据,代表装置的元件间相互关系的相互关系数据,和诊断知识;第二记忆体,系用以储存修复状况知识;第三记忆体,系用以储存修复工作答案知识;诊断装置,系基于来自感测器装置之装置状态资料,储存于上述记忆体装置之特性数据和诊断知识的条件数据,决定装置是否在一个正常或不正常条件;修复计划推论装置,系响应于诊断装置决定装置是在不正常条件下,基于来自修复状况知识的修复状况,及来自工作答案知识的工作答案而推论第一修复计划;且当第一修复计划未能成功回到正常条件时推论第二修复计划,及修复实施装置,系用以实施上述修复计划推论装置所推论所得之第一修复计划及第二修复计划,俾使装置由不正常状态回复至正常状态。17﹒如申请专利范围第16项之影像形成装置,其中之修复计划推论装置,系基于利用推论装置导出一个新的修复状况,推论一个第二修复计划。18﹒如申请专利范围第17项之影像形成装置,其中修复计划推论装置,系基于一个推论故障候选,模拟故障影响,和推论第二影响,推论出此第二修复计划;并且储存此推论第二修复计划当成一个新的修复状况。19﹒如申请专利范围第18项之影像形成装置,其中之该系统进一步包括更新装置,在装置已经回到它的正常条件后,所接收条件更新特性数据。20﹒一种影像形成装置,具备自修复功能,包括多数个相互关系之元件;该等相互关系元件包括:感光体,系藉电子摄影方式形成影像带电装置,系令上述感光体带电至规定电位;曝光装置,系使因上述带电装置而带电至规定置位之感光体藉用以形成影像之对应光线曝光;显像装置,系用以对上述曝光装置曝光后之感光体赋与碳粉;复印装置,系将利用上述显像装置赋与碳粉而形成在感光体上之碳粉影像复印于纸张上;多数致动器,至少包括得以控制上述带电装置所产生之感光体带电电位、曝光装置所产生之曝光强度、显影装置所产生之碳粉赋与浓度等;感测器装置,系用以感测装置的条件,和提供指示装置条件之条件数据;记忆体装置,系包括用以储存装置特性数据、相互关系知识、和诊断知识之第一记忆体;用以储存修复状况知识被组织成修复状况之第二记忆体;用以储存修复工作答案知识被组织成工作答案之第三记忆体诊断装置,系基于来自感测器装置之条件数据,储存于上述记忆体装置之特性数据和诊断知识,决定装置是否在正常或不正常条件;修复计划推论装置,系用以者应于诊断装置决定装置在不正常条件,而推论出一个修复状况以选择一个致动器元件,俾影响装置的一个操作;及致动器控制装置,系用以控制修复计划推论装置所选择来藉以影响操作之致动器。21﹒如申请专利范围第20项之影像形成装置,包括转换装置,系转换从感测器装置来的条件数据成为符号数据;和诊断装置,系从转换装置来的符号数据和诊断知识,决定装置的条件。22﹒如申请专利范围第21项之影像形成装置,其中之该系统进一步包括更新装置以更新特性数据。23.如申请专利范围第22项之影像形成装置,其中之特性数据包括参考値数据,和包括数学模型知识的相互关系知识。24﹒一种影像形成装置之自修复方法,具有多数个相互关系元件;此相互关系元件包括致动器元件实施装置操作;和记忆体装置,系储存代表装置的不同特性之特性数据,代表装置元件间相互关系的相互关系知识,诊断知识,修复状况知识,和修复工作答案知识;该方法包括步骤:接收指示装置条件的条件数据;基于所接收条件数据,特性数据和诊断知识,决定装置是否在一个正常或不正常条件;假如装置在不正常条件,应用修复状况知识和工作答案知识,推论一个修复计划,影响一个致动器元件改变装置的一个操作。25.如申请专利范围第24项方法,所述之应用修复状况知识和工作答案知识的该步骤其步骤包括:应用相互关系知识监别一个故障原因,和相对于所监别故障原因,从修复状况知识检索修复状况,和从工作答案知识检索一个修复工作答案。26.如申请专利范围第24项之自修复方法,其中之诊断知识包括功能评估知识;决定影像形成装置的条件之该步骤,系包括比较所接收条件数据和功能评估知识,以监别一个故障徵象;和从修复状况知识检索修复状况的该步骤,系包括相关于所监别故障原因和所监别故障徵象所检索状况的步骤。27.如申请专利范围第26项之自修复方法 ,其中之从修复状况知识检索修复状况的该步骤,包括依优先排列检索状况的步骤,以获得最高优先修复状况。28﹒如申请专利范围第27项之自修复方法,其中之修复状况,每一个包括一个修复工作指示栏位,其包含修复工作指示数据;和工作答案其包括相关于工作指示数据之修复工作;和应用修复状况知识和工作答案知识的该步骤,其包括执行利用最高优先修复状况的修复工作指示数据指示的一个修复工作;并且在检索工作答案中包括此修复状况。29﹒如申请专利范围第27项之自修复方法,其中,该修复状况,包括一个成功率栏位包含成功率値。在此,假如指示的修复工作执行后,影像形成装置已经回到它的正常条件,则增加最高优先修复状况的成功率値。30﹒如申请专利范围第29项之自修复方法,其中之该修复状况包括一个失败率栏位包含一个失败率値,和在此,假如指示的修复工作执行后,影像形成装置不回到它的正常条件,则增加最高优先修复状况的失败率値,并且使用下一个最高优先修复状况当成一个最高优先修复状况。31﹒如申请专利范围第30项之自修复方法,所述之该方法包括步骤:假如不存在一个下一个优先修复状况推论新的修复工作;推论第二影响,此系由于基于相互关系数据的每一个推论新的修复工作;选择一个新的修复工作,系从推论新的修复工作中具有最少推论第二影响;影响致动器元件,根据选择新的修复工作能够改变装置的操作。32﹒如申请专利范围第31项之自修复方法,其中之推论新的修复工作的步骤,包括推论顺序的步骤,以减低一个推论第二影响,并且应用修复计划知识选择一个最佳顺序,并且修复计划知识包括知识系:(a)一个最佳顺序必不包括相矛盾于所选择新的修复工作的步骤,(b)最佳顺序必须推论只有最小进一步第二影响,和(c)放弃最佳顺序,假如在执行最佳顺序时,操作参数到达它的极限。33﹒如申请专利范围第32项方法,所述之假如所选择新的修复工作失败,基于推论第二影响的下一个最少数目,选择另一个新的修复工作。34﹒如申请专利范围第27项之自修复方法,其中之修复状况具有预先修复条件栏位,以包含预先修复持性数据,和应用修复状况知识和工作答案知识的该步骤,包括比较是否所接收条件数据相同于,最高优先修复状况的预先修复特性数据的步骤。35﹒如申请专利范围第34项之自修复方法,其中之修复状况具有工作指示数据栏位包含修复工作指示数据,工作答案具有一列修复工作和代表此工作的先前条件,和工作预期结果的相关数据,并且该方法包括步骤:假如所接收条件数据相同于,最高优先修复状况的先前修复特性数据;执行此优先修复状况提供修复工作指示数据所指示的一个所选择修复工作;和假如从感测器装置的条件装置,不相同于优先修复状况的预先修复特性,则比较相关指示修复工作的工作先前数据,于在此相关的接收条件数据;和假如所指示修复工作的先前数据,和相关接收条件数据是相同;执行所指示修复工;并且假如先前数据和所接收相关条件数据不相同;决定是否所检索工作答案,包括另一个修复工作,影响一个致动器元件,因此相关所接收数据将相同于指示修复工作的先前数据;并且假如工作答案包括另一个修复工作,影响一个致动器元件,因此执行该另一个修复工作。36﹒如申请专利范围第35项之自修复方法,所述之执行该另一个修复工作后,根据最高优先修复状况所提供修复工作指示数据,执行在检索修复工作答案所列出的修复工作。37﹒如申请专利范围第36项之自修复方法,包括步骤:假如执行该另一个修复工作,所接收条件数据不同于该另一个修复工作的预期结果,则推论一个新修复状况和一个修复工作答案。38.如申请专利范围第37项之自修复方法,包括转换所接收数据变成符号数据的不同。39﹒如申请专利范围第38项之自修复方法,其中之该诊断知识包括功能评估如识;一决定是否装置在一个正常或一个不正常条件的该步骤,其包括比较符号数据于功能评估知识的步骤。40﹒如申请专利范围第38项之自修复方法,其中之该特性数据包括参考値数据,并且该方法进一步包括更新和储存参考値数据的步骤,此数据其基于在装置己经回到它的正常条件后从感测器装置之条件。41﹒如申请专利范围第40项之自修复方法,其中之参考値数据,代表装置元件的相关参数的期望操作范围;并且更新参考値数据的步骤,包括改变原来期望操作范围到一个新期望操作范围的步骤。42﹒一种影像形成装置之自修复方法,包括多数个相互关系元件;此相互关系元件包括致动器元件,实施装置的操作;感测器装置,感测装置的条件,共且提供条件数据指示;记忆体装置,系储存代表装置値不同特性之特性数据,代表装置元件间相互关系的相互关系知识,诊断知识,修复状况知识,和修复工作答与知识;该方法包括步骤:接收条件数据;基于所接收条件数据,特性数据相关断知识,决定装置是否在一个正常或不正常条件;假如装置在不正常条件,应用修复状况知识和工作答案知识,推论一个修复计划,影响一个致动器元件获得致动一个新的所预期条件;和假如推论修复工作未能影响致动新元件到达预期条件,基于应用状况知识和作答案知识推论新的修复状况知识。43﹒如申请专利范围第42项之自修复方法,其中之该方法包括推论新的工作答案知识的步骤。44﹒如申请专利范围第43项之自修复方法,其中之推论新的修复状况知识的该步骤,所包括步骤:从包括先前条件数据的修复状况知识中,检索所有的修复状况,是通用于所有检索状况和是不同于所接收条件数据,其相关于通用预先修复条件数据。45﹒如申请专利范围第44项之自修复方法,其中之推论新的修复状况知识的步骤包括步骤:推论通用先前修复条件数据和相对应所接收条件数据之不同,得到所推论修复工作未能使影像形成装置回到它的正常条件之理由;从应用工作答案知识的一个工作答案内,找出修正工作,使得相关接收条件数据,相同于一个检索修复状况的预先修复的条件数据;和执行修正工作以影响一个致动器元件。46﹒如申请专利范围第45项之自修复方法,其中之该方法包括步骤:假如修正修复工作改变相关接收条件数据,所其相同于预先修复条件数据;推论新的修复状况知识和新的工作答案知识成为一个新的修复状况,包括预先修复条件数据,相同于当装置在不正常条件时指示影像形成装置的条件之特性数据;修复工作指示数据指示一个修复计划,包括利用该一个修复状况的修复工作指示数据指示的修正修复工作和修复工作。47﹒如申请专利范围第42项之自修复方法,其中之修复状况知识包括修复状况,每一个具有预先修复条件栏位包含预先修复特性数据;并且工作答案知识包括相关于在影像形成装置故障原因的工作答案,并且每一个工作答案包括指示最少一个修复工作的修复工作数据;影响形成装置的决定条件的该步骤,包括基于所接收条件和诊断知识,监别一个故障徵象的步骤;应用修复状况知识和工作答案知识的该步骤,包括步骤应用相互关系知识监别一个故障原因;相对应于监别故障原因和监别故障徵象,检索修复状况;相对应于监别故障原因,检索一个工作答案;推论新的修复状况知识的该步骤,包括从检索具有预先修复特性数据之状况,分类所有修复状况的步骤,是通用于所有检索状况和是不同于所接收条件数据,其相关于通用预先修复特性数据;推论为什麽推论修复工作未能根据预期结果影响致动器元件的理由,是因为某些接收条件数据不同某些通用预先修复条件数据;在检索工作答案中,找到一个修正修复工作;和执行修正修复工作,改变此不同接收条件,相同于它所对应在所分类修复状况的预先修复条件。48﹒如申请专利范围第47项之自修复方法,该方法包括假如修正修复工作未能改变不同所接收条件数据,使其相同于它的相关预先修复条件数据,推论为什麽修正工作失败,是因为其他所接收条件数据不同于它的相关通用预先修复条件数据。图示简单说明:图1系根据本发明实施例一个系统的建构之方块图。图2系图1控制电路的操作之流程图图3系本发明应用于黑白拷贝机的示意构成之图。图4系本实施例的数学模型图。图5系所需个别参数的参考値数据,以符号化个别参数。图6和7系故障诊断数学模式的发展图。图8系使用于本发明实施例状况的修复工作的处理流程图。图9到14系第二效应推论数学模型发展图。图15系选择修复计划操作图。图16系在更新后参考値数据图。
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