| 摘要 |
<p>Integrierte Schaltungen, die insbesondere analoge Signale verarbeiten und aus einer Vielzahl von einzelnen Funktionsblöcken bestehen, sind nur schwierig zu testen, da die Anschlüsse beispielsweise intern miteinander verbundener Funktionsblöcke nicht ohne weiteres herausgeführt werden können, und zwar wegen der begrenzten Anzahl externer Anschlüsse. Um dennoch einen möglichst vollständigen Test der integrierten Schaltung durch Testen einzelner Funktionsblöcke getrennt voneinander zu ermöglichen, wird vorgeschlagen, Eingänge und Ausgänge von Funktionsblöcken mit Schaltern zu verbinden, die eine Verbindung dieser Funktionsblöcke mit externen Anschlüssen ermöglichen. Die Schalter werden durch Speicherstufen angesteuert, und diese werden über einen Testeingang geladen, der mit Komparatoren verbunden ist. Diese vergleichen das Eingangssignal mit verschiedenen Referenzspannungen, wobei die Spannungsbereiche zwischen den Referenzsignalen den logischen Werten "0" und "1" sowie einem Taktsignalwert zugeordnet sind. Dadurch kann über nur einen Testeingang eine Folge von Daten mit einem Datentakt zugeführt werden, um die internen Schalter gemäß dem gewünschten Testzustand umzuschalten. <IMAGE></p> |
