用以决定沿记录带之时间位址的方法及装置

摘要

本发明系提供装置及方法其用以测量卷轴上之磁带起点与卷绕于卷轴轴毂上之记录带现行位置间之时间位址。一种测量卷轴上磁带起点与卷绕于卷轴轴毂上之记录带现行位置间之时间位址的方法包含以下步骤即测量接近记录带第一位置之卷轴的单一旋转周期(以Tp表之)，储存当卷轴上之磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时之卷轴的单旋转周期(To表之)，储存当记录带卷绕于卷轴上或自卷轴处脱开时之卷轴的一旋转周期与卷轴之次一旋转周期间之周期差(以dT表之)，并由Tp，To，dT藉着计算一值Tc(相关于 Tc=(Tp^2-To^2)／(2*dT))之方式导出由磁带起点至磁带第一位置之时间位址。另亦提供一方法俾于录影节目时藉着测量接近节目录影起点之供应轴的单一旋转周期之方式来测量记录至卷绕于卷轴轴毂上之记录带上的节目起始位址。

主权项

1.一种测量卷轴上磁带起点与卷绕于卷轴轴毂上之记录带现行位置间之时间位址之装置包含:一装置其用以测量并储存接近记录带第一位置之卷轴单一旋转周期(以TC_pC表之);一装置其用以储存当卷轴上磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时之卷轴单一旋转周期(以TC_oC表之);一装置其于记录带卷绕至卷轴上或自卷轴脱开时之卷轴一旋转周期与卷轴次一旋转周期间之周期差(以dT表之);以及一装置其由TC_pC,TC_oC与dT导出磁带起点至磁带第一位置之时间位址。2.如申请专利范围第1项之装置,其中该由TC_pC,TC_oC与dT导出磁带起点至磁带第一位置之时间位址之装置包含处理器装置俾获得一相关于TC_cC=(TC_pC/(2C之値3.如申请专利范围第2项之装置,另包含一装置其用以测量卷绕至卷轴轴毂上之磁带长度。4.如申请专利范围第3项之装置,其中该测量卷绕至卷轴轴毂上之磁带长度之装置包含:处理器装置其用以获得相关于L=VC^*CTC_cC之値L;其中V为磁带移动之速度。5.一种测量卷轴上磁带起点与卷绕于卷轴轴毂上之记录带现行位置间之时间位址之方法包含以下步骤:测量接近记录带第一位置之卷轴单一旋转周期(以TC_pC表之);储存当卷轴上磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时之卷轴单一旋转周期(以TC_oC表之);储存当记录带卷绕至卷轴上或自卷轴脱开时之卷轴旋转周期一与卷轴次一旋转周期间之周期差(以dT表之);以及由TC_pC,TC_oC与dT导出磁带起点至磁带第一位置之时间位址。6.如申请专利范围第5项之方法,其中该由TC_pC,TC_oC与dT导出磁带起点至磁带第一位置之时间位址之方法包含一步骤其计算一相关于TC_cC=(TC_pC/(2C之値7.一于节目记录时测量卷绕至接纳轴轴毂之记录带上所记录节目之起始位址之装置包含:一装置其用以测量接近节目记录起点之接纳轴之单一旋转周期(以TC_sC表之);一装置其用以计数记录起点与终点间之接纳轴旋转数,该旋转数以N表之;一装置其用以测量接近节目记录终点之接纳轴之单一旋转周期(以TC_eC表之);一装置其利用TC_sC,N与TC_eC测量于记录带卷绕至接纳轴上或自接纳轴脱开时之接纳轴一旋转周期与接纳轴次旋转周期间之平均周期差(以dT表之);一装置其于卷轴上磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时储存卷轴之单一旋转周期(以TC_oC表之);以及一装置其由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出起始位址(以TC_asC表之)其为接纳轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录起点间之时间。8.如申请专利范围第7项之装置,另包含一装置其由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出节目之终止位址(以TC_eaC表之)其为接纳轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录终点间之时间。9.如申请专利范围第8项之装置,另包含一装置其用以自TC_eaC中减去TC_saC以决定节目之长度。10.如申请专利范围第7项之装置,其中该测量接近节目记录起点之接纳轴单一旋转周期(以TC_sC表之)之装置另包含:一装置其于接纳轴旋转时用以产生脉冲;一旋转周期计数装置其连至该产生脉冲之装置俾测量接纳轴之一旋转时间;以及一计数器其连至旋转周期计数装置。11.如申请专利范围第10项之装置,其中该计数记录起点与终点间接纳轴旋转数(旋转数以N表之)之装置另包含一旋转计数装置其连至该产生脉冲之装置俾计数接纳轴之旋转数。12.如申请专利范围第7项之装置,其中该测量接近节目记录起点之接纳轴单一旋转周期(以TC_sC表之)之装置包含:多数条在接纳轴上之反射线;光学侦测装置其于接纳轴旋转时用以感测反射线之通过;一旋转周期计数装置其连至光学侦测装置俾测量接纳轴之一旋转时间;以及一计数器其连至旋转周期计数装置。13.如申请专利范围第7项之装置,其中该利用TC_sC,N与TC_eC于记录带卷绕至接纳轴上或自接纳轴脱开时测量接纳轴一旋转周期与接纳轴次一旋转周期之平均周期差(以dT表之)之装置另包含处理器装置俾获得一相关于dT=(TC_eC--TC_sC)/N之値dT。14.如申请专利范围第7项之装置,其中该由TC_sC,N与TC_oC导出起始位址(以TC_eaC表之,其为接纳轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录起点间之时间)之装置另包含处理器装置俾获得一相关于TC_saC=(TC_sC/之値saC。15.如申请专利范围第8项之装置,其中该由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出节目位址(以TC_eaC表之,其为接纳轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录终点间之时间)之装置另包含处理器装置俾获得一相关于TC_eaC=(TC_eC/之値TC_eaC。16.一种于节目记录时用以测量卷绕至供应轴轴毂之记录带上所记录节目之起始位址之装置包含:一装置其用以测量接近节目记录起点之供应轴之单一旋转周期(以TC_sC表之);一装置其用以计数记录起点与终点间之供应轴旋转数,该旋转数以N表之;一装置其用以测量接近节目记录终点之供应轴之单一旋转周期(以TC_eC表之);一装置其利用TC_sC,N与TC_eC于记录带卷绕至供应轴上或自供应轴脱开时之供应轴一旋转周期与供应轴次一旋转周期间之平均周期差(以dT表之);一装置其于卷轴上磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时储存卷轴之单一旋转周期(以TC_oC表之);以及一装置其由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出起始位址(以TC_saC表之)其为供应轴上磁带终点与记录带所记录节目之记录起点间之时间。17.如申请专利范围第16项之装置,另包含一装置其由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出终止位址(以TC_eaC表之)其为供应轴上磁带终点与记录带所记录节目之记录终点间之时间。18.如申请专利范围第17项之装置,另包含一装置其用以自TC_eaC中减去TC_saC以决定节目之长度。19.如申请专利范围第16项之装置,其中该测量接近节目记录起点之供应轴单一旋转周期(以TC_sC表之)之装置另包含:一装置其于供应轴旋转时用以产生脉冲;一旋转周期计数装置其连至该产生脉冲之装置俾测量供应轴之一旋转时间;以及一计时器其连至旋转周期计数装置。20.如申请专利范围第19项之装置,其中该计数记录起点与终点间供应轴旋转数(旋转数以N表之)之装置另包含一旋转计数装置其连至该产生脉冲之装置俾计数供应轴之旋转数。21.如申请专利范围第16项之装置,其中该测量接近节目记录起点之供应轴单一旋转周期(以TC_sC表之)之装置包含:多数条在供应轴上之反射线;光学侦测装置其于供应轴旋转时用以感测反射线之通过;一旋转周期计数装置其连至光学侦测装置俾测量供应轴之一旋转时间;以及一计时器其连至旋转周期计数装置。22.如申请专利范围第16项之装置,其中该利用TC_sC,N与TC_eC于记录带卷绕至供应轴上或自供应轴脱开时测量供应一旋转周期与供应轴次一旋转周期间之平均周期差(以dT表之)之装置另包含处理器装置俾获得一相关于dT=(TC_sC--TC_eC)/N之値dT。23.如申请专利范围第16项之装置,其中该由TC_sC,N与TC_oC导出起始位址(以TC_saC表之,其为供应轴上磁带终点与记录带所记录节目之记录起点间之时间)之装置另包含处理装置俾获得一相关于TC_saC=(TC_sC/之値saC。24.如申请专利范围第17项之装置,其中该由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出终止位址(以TC_eaC表之)其为供应轴上磁带终点与记录带所记录节目之记录终点间之时间)之装置另包含处理器装置俾获得一相关于TC_eaC=(TC_eC/之値eaC。25.一种于节目记录时测量卷绕至接纳轴轴毂之记录带上所记录节目之起始位址之方法包含:测量接近节目记录起点之接纳轴单一旋转周期(以TC_sC表之);计数记录起点与终点间之接纳轴旋转数,该旋转数以N表之;测量接近节目记录终点之接纳轴单一旋转周期(以TC_eC表之);利用TC_sC,N与TC_eC测量当记录带卷绕至接纳轴上或自接纳轴脱开时之接纳轴一旋转周期与接纳轴次一旋转周期之周期差(以dT表之);储存当卷轴上磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时之卷轴单一旋转周期(以TC_oC表之);由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出起始位址(以TC_saC表之)其为接纳轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录起点间之时间。26.如申请专利范围第25项之方法,另包含以下步骤即由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出节目之终止位址(以TC_eaC表之)其为接纳轴上磁带起点与记录带的记录节目之记录终点间之时间。27.如申请专利范围第26项之方法,另包含以下步骤即由TC_eaC中减去TC_saC以决定节目长度。28.如申请专利范围第25项之方法,其中该利用TC_sC,N与TC_eC来测量当记录带卷绕至接纳轴上或自接纳轴脱开时之接纳轴一旋转周期与接纳轴次一旋转周期间之周期差(以dT表之)之步骤另包含获得一相关于dT=(TC_eC--TC_sC)/N之値dT之步骤。29.如申请专利范围第25项之方法,其中该由TC_sC,N与TC_oC导出起始位址(以TC_saC表之,其为接纳轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录起点间之时间)之步骤另包含获得一相关于TC_saC=(TC_sC/之値saC之步骤。30.如申请专利范围第26项之方法,其中该由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出节目终止位址(以TC_eaC表之其为接纳轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录终点间之时间)之步骤另包含获得一相关于TC_eaC=(TC_eC/之値eaC之步骤。31.一种于节目记录时测量卷绕至供应轴轴毂之记录带上所记录节目之起始位址之方法包含以下步骤:测量接近节目记录起点之供应轴单一旋转周期(以TC_sC表之);计数记录起点与终点间之供应轴旋转数,该旋转数以N表之;测量接近节目记录终点之供应轴单一旋转周期(以TC_eC表之);利用TC_sC,N与TC_eC测量当记录带卷绕至供应轴上或自供应轴脱开时之供应轴一旋转周期与供应轴次一旋转周期之周期差(以dT表之);储存当卷轴上磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时之卷轴单一旋转周期(以TC_oC表之);由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出起始位址(以TC_saC表之)其为供应轴上磁带终点与记录带所记录节目之记录起点间之时间。32.如申请专利范围第31项之方法,另包含以下步骤即由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出终止位址(以TC_eaC表之)其为供应轴上磁带终点与记录带所记录节目之记录终点间之时间。33.如申请专利范围第32项之方法,另包含以下步骤即由TC_eaC中减去TC_saC以决定节目长度。34.如申请专利范围第31项之方法,其中该利用TC_sC,N与TC_eC来测量当记录带卷绕至供应轴上或自供应轴脱开时之供应轴一旋转周期与供应轴次一旋转周期间之周期差(以dT表之)之步骤另包含处理器装置俾获得一相关于dT=(TC_sC--TC_eC)/N之値dT。35.如申请专利范围第31项之方法,其中该由TC_sC,N与TC_oC导出起始位址(以TC_saC表之,其为供应轴上磁带终点与记录带所记录节目之记录起点间之时间)之步骤另包含处理器装置俾获得一相关于TC_saC=(TC_sC/之値saC。36.如申请专利范围第32项之方法,其中该由TC_sC,N,TC_eC与TC_oC导出终止位址(以TC_eaC表之,其为供应轴上磁带终点与记录带所记录节目之记录终点间之时间)之步骤另包含处理器装置俾获得一相关于TC_eaC=(TC_eC/之値eaC。37.一种测量具有含轴毂之供应轴与含轴毂之接纳轴之磁带盒中磁带长度之方法包含以下步骤:将磁带整个长度卷绕至供应轴或接纳轴上;测量磁带卷绕至其之卷轴之单一旋转周期(以TC_pC表之);储存当卷轴上磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时之卷轴单一旋转周期(以TC_oC表之);储存当记录带卷绕于磁带卷挠至其上之卷轴上或自该卷轴脱开时之卷轴一旋转周期与卷轴次一旋转周期间之周期差(以dT表之);以及由TC_pC,TC_oC与dT导出磁带起点至磁带终点之时间位址。38.如申请专利范围第37项之方法,其中该由TC_pC,TC_oC与dT导出磁带起点至磁带终点之时间位址之方法包含以下步骤即计算一相关于T1=(TC_pC/(2C之値39.一种索引自卷轴轴毂脱开或卷绕至卷轴轴毂之记录带上之节目之方法,该方法包含以下步骤:于记录带上记录一节目;为记录带上所记录之节目产生一资料目录;测量接近节目记录起点之卷轴单一旋转周期(以TC_sC表之);计数记录起点与终点间卷轴旋转数,该旋转数以N表之;测量接近节目记录终点之卷轴单一旋转周期(以TC_eC表之);利用TC_sC,N与TC_eC测量当记录带卷绕至卷轴上或自卷轴脱开之卷轴一旋转周期与卷轴次一旋转周期间之周期差(以dT表之)俾获得一相关于dT=(TC_sC--TC_eC)/N(假设TC_sC>=TC_eC)或dT=(TC_eC--TC_sC)/N(假设TC_eC=TC_eC)或dT=(TC_eC--TC_sC)/N(假设TC_eC0,则回转磁带达T1以调整供回转速度之用;以及假设T1>0,则快速前转磁带达T1以调整供快速前转速度之用。45.如申请专利范围第44项之方法,另包含以下步骤:自磁带中读取一绝对位址TC_aaC;计算T2=TC_aaC--TC_saC;假设T2>0,则回转磁带达T2以调整供回转速度之用;假设T2<0,则快速前转磁带达T2以调整供快速前转速度之用。46.如申请专利范围第44项之方法,另包含以下步骤:查寻一索引标记;假设找到一索引标记则自磁带中读取一节目辨识并将该节目辨识与选定节目之节目辨识作比较以确保撷取到正确之节目。47.一种用以自卷绕于卷轴轴毂上之预录带中撷取一节目之方法,该方法包含以下步骤:提供一储存在磁带上之目录其包含每一节目之节目辨识及一起始位址(以TC_saC表之)其为卷轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录起点间之时间;由磁带中读取一位址;计算T2=TC_aaC--TC_saC;假设T2>0,则回转磁带达T2以调整供回转速度之用;以及假设T2<0,则快速前转磁带达T2以调整供快速前转速度之用。48.如申请专利范围第47项之方法,另包含以下步骤:查寻一索引标记;以及假设找到一索引标记则自磁带中读取一节目辨识并将该节目辨识与选定节目之辨识作比较以确保撷取到正确之节目。49.如申请专利范围第44或47项之方法,另包含以下步骤:显示一节目目录给使用者;以及选定一撷取之节目。50.如申请专利范围第49项之方法,其中该选定撷取节目之步骤包含以下步骤即利用游标由显示目录中选定撷取之节目。51.一种用以测试于磁带上安置时间位置之技术之正确性之方法,包含以下步骤:记录磁带之数位计时之显示时间;播放磁带;显示记录时间;利用磁带上安置时间位置之技术来测量磁带上之时间位置;以及将磁带上所测得之时间位置与显示之记录时间作比较。52.如申请专利范围第51项之方法,其中该记录磁带数位计时之显示时间与播放磁带之步骤另包含使用录/放影机之步骤。53.如申请专利范围第52项之方法,其中该显示记录时间之步骤另包含使用一连至录/放影机之电视之步骤。54.一种用以自卷绕于卷轴轴毂上之加标记磁带中撷取一节目之方法,该方法包含以下步骤:提供一目录其包含每一节目之节目辨识与起始位址(以TC_saC表之)其为卷轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录起点间之时间;读取即将自目录中撷取之节目之起始位址TC_saC;测量记录带一现行位置处之卷轴单一旋转周期(以TC_cC表之);储存当卷轴上磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时之卷轴单一旋转周期(以TC_oC表之);储存当记录带卷绕至卷轴上或自卷轴脱开时之卷轴一旋转周期与卷轴次一旋转周期间之周期差(以dT表之);由TC_saC,TC_oC与dT导出起始位址处之卷轴单一旋转周期(以TC_sC表之));计算现行位址与起始位址间相关于N=(TC_sC--TC_cC)/dT之卷轴圈数;假设N大于0则快速前转略少于N圈;以及假设N小于或等于0则回转略多于N圈。55.一种用以自卷绕于卷轴轴毂上之加标记带中撷取一节目之方法,该方法包含以下步骤:提供一目录其包含每一节目之节目辨识与起始位址(以TC_saC表之)其为卷轴上磁带起点与记录带所记录节目之记录起点间之时间;读取即将自目录中撷取之节目之起始位址TC_saC;读取磁带中之现行位址TC_aaC;储存当卷轴上磁带半径约与卷轴轴毂半径相同时之卷轴单一旋转周期(以TC_oC表之);储存当记录带卷绕至卷轴上或自卷轴脱开时之卷轴一旋转周期与卷轴次一旋转周期间之周期差(以dT表之);由TC_aaC,TC_oC与dT导出现行位址处之卷轴单一旋转周期(以TC_cC表之);由TC_saC,TC_oC与dT导出起始位址处之卷轴单一旋转周期(以TC_sC表之);计算现行位址与起始位址间相关于N=(TC_sC--TC_cC)/dT之卷轴圈数;假设N大于0,则快速前转略少于N圈;以及假设N小于或等于0,则回转略多于N圈。56.如申请专利范围第54或55项之方法,另包含以下步骤:查寻一索引标记;假设找到索引标记,则自磁带读取一节目辨识并将该节目辨识与选定节目之节目辨识作比较以确保撷取到正确之节目。57.如申请专利范围第54或55项之方法,其中该由TC_saC,TC_oC与dT导出起始位址处之卷轴单一旋转周期之步骤包含计算TC_sC=((2dTC^*CTC_saC)+TC_oC之步骤。58.如申请专利范围第55项之方法,其中该由TC_aaC,TC_oC与dT导出现行位址处之卷轴单一旋转周期之步骤包含计算TC_cC=((2dTC^*CTC_aaC)+TC_oC之步骤。第1a图系一方块图其揭示一录放影机(下文称录影机)而该录影机包含依本发明原理之装置其用以决定卷轴上磁带起点与卷绕于卷轴轴毂上之记录带所记录之节目现行位置及/或起点间之时间位址。第1b图系依本发明原理之旋转周期计数器及转数计数器之方块图。第1c图系依本发明原理之目录显示器之揭示图。第2a图系一揭示图其显示位本发明原理之记录期起点处之录影带每一卷轴上之磁带量。第2b图系一揭示图其显示依本发明原理之记录期终点处之录影带每一卷轴上之磁带量。第2c图系一揭示图其显示依本发明原理之磁带卷绕至供应轴上时录影带每一卷轴上之磁带量。第2d图系一揭示图其显示依本发明原理之磁带卷绕至接纳轴上时录影带每一卷轴上之磁带量。第3系一流程图其显示依本发明原理藉着测量接纳轴旋转周期之方式来决定自磁带起点开始之磁带上所记录节目之起点与终点位址所采用之步骤。第4图系一流程图其显示依本发明原理藉着测量供应轴旋转周期之方式来决定自磁带起点开始之磁带上所记录节目之起点与终点位址所采用之步骤。第5a图系一流程图其显示依本发明原理决定自卷轴上磁带起点开始之现行时间位址所采用之步骤。第5b图系一流程图其显示依本发明原理决定卷轴上磁带之时间与长度量。第6a图系依本发明原理之家用记录带用之实施例示意视图其揭示将VISS标记储存至一控制轨上且每一TPA小包均包含一磁带辨识号码,一节目号码,以及一垂直空白间隔线上之绝对位址,并利用一目录记忆体。第6b图系依本发明原理之预录带用之实施例示意视图其揭示将VISS标记储存至一控制轨上,每一TPA小包均包含一磁带辨识号码,一节目号码,以及一垂直空白间隔线上之绝对位址,以及一垂直空白间隔线上之目录。第6c图系依本发明原理之回溯式加标记磁带用之实施例示意视图其揭示将VISS标记储存至一控制轨上并利用一目录记忆体。第7图系一示意图其揭示依本发明原理之目录。第8a图系一示意图其揭示依本发明原理之图7之D(O)部分中之资料。第8b图系一示意图其揭示依本发明原理之图7之D(1)至D(N)部分中之资料。第9图系一示意图其揭示依本发明原理之TPA小包中之资料。第10图系一流程图其显示依本发明原理于家用记录带记录期间利用第3或4图之步骤所采用之步骤。第11图系一流程图其显示依本发明原理于回溯式索引一回溯式加标记录带期间利用第3或4图之步骤时所采用之步骤。第12a至12d图系流程其显示依本发明原理于撷取磁带上所记录节目而利用第5a图步骤时所采用之步骤。第12b图显示撷取家用记录带上所记录节目时所采用之步骤。第12c图显示撷取预录带上所记录节目时所采用之步骤。第12d图显示撷取记录于回溯式加标记磁带上节目时所采用之步骤。第13a至13d图系流程图其显示依本发明原理于撷取磁带上所记录节目时所采用之步骤。第13b、13c及13d图分别为撷取家用记录带、