发明名称 分光素子、およびそれを用いた荷電粒子線装置
摘要 電子顕微鏡に波長分散型X線分析装置を備えた電子線分析装置において、評価対象の元素に対して高感度且つ高精度な分析を短期間で行う。各々のX線に対してX線反射率が最大となる複数パターンを形成した1つの回折格子を電子線分析装置に設け、エネルギー基準となるX線および評価対象のX線スペクトルを同時に検出する。回折格子の設置・交換によるX線エネルギーの位置ズレをエネルギー基準のX線スペクトルにより校正し、短期間で高感度且つ高精度な分析が可能となる。
申请公布号 JPWO2014068689(A1) 申请公布日期 2016.09.08
申请号 JP20140544109 申请日期 2012.10.31
申请人 株式会社日立製作所 发明人 阿南 義弘;高口 雅成
分类号 G21K1/06;G01N23/207;G01N23/22;G01N23/225;G21K1/00;H01J37/244;H01J37/252 主分类号 G21K1/06
代理机构 代理人
主权项
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