| 主权项 |
1. 一种用于照相磨削处理标的物表面之方法,其包括下列步骤:a)引导一脉冲紫外线放射光束于标的物表面上一预定起始之扫描区域;b)将该光束以远离该预定起始扫描区域之方向扫描至标的物表面之第一端缘;c)渐增角度地转动标的物;d)将光束移回至标的物表面上之该预定起始扫描区域;e)将光束以远离该预定起始扫描区域之方向扫描至相对于该标的物表面第一端缘之另一端缘;以及依序重复步骤c),d)及e),俾利整个标的物表面之扫描。2.一种用于照相磨削处理标的物表面之方法,其包括下列步骤:a) 引导一脉冲紫外线放射光束于标的物表面上一预定起始之扫描区域;b)将该光束以远离该预定起始扫描区域之方向扫描至标的物表面之第一端缘;c)将标的物转动180度;d)将光束移回至标的物表面上之该预定起始扫描区域;e)将光束以远离该预定起始扫描区域之方向扫描至相对于该标的物表面第一端缘之另一端缘,俾利整个标的物表面之扫描。3. 根据申请专利范围第2项之方法,其中该脉冲紫外线放射光束由一激发电射发射而出。4. 根据申请专利范围第2项之方法,其中该标的物表面由一交叉连结高分子聚合物材料所组成。5. 根据申请专利范围第2项之方法,其中该标的物表面为一热硬化材料。6. 根据申请专利范围第2项之方法,其中该标的物表面为一热塑性材料。7. 根据申请专利范围第2项之方法,其中该脉冲紫外线放射光束之强度(福路恩斯或fluence)由大约20 mJ/cm@su2至约5,000 mJ/cm@su2。8. 根据申请专利范围第2项之方法,其中该光束之强度大约为1J/cm@su2。9. 根据申请专利范围第2项之方法,其中该预定起始扫描区域为一条二等分线。10. 根据申请专利范围第2项之方法,其中该标的物为一片隐形眼镜片。11. 一种用于照相磨削处理标的物表面之方法,其包括下列步骤:a)引导一脉冲紫外线放射光束于标的物表面上一预定起始之扫描区域;b)将该光束以远离该预定起始扫描区域之方向扫描至标的物表面之第一端缘;c)关闭该光束之发射;d)将光束移回至该预定起始扫描区域;e)重新启动该光束;以及f)将该光束以直接相反于步骤b)中扫描之方向扫描,俾利整个标的物表面之表面。12. 一种由磨削之光学分解术所提供之修饰之标的物表面,该分解术包括下列步骤:a)引导一脉冲紫外线放射光束于标的物表面上一预定起始之扫描区域;b)将该光束以远离该预定起始扫描区域之方向扫描至标的物表面之端缘;c)将标的物转动180度;d)将光束移回至标的物表面上之该预定起始扫描区域;以及e)将光束以远离该预定起始扫描区域之方向扫描至相对于该标的物表面第一端缘之另一端缘,俾利整个标的物表面之扫描。13. 根据申请专利范围第12项之标的物表面,其中该标的物表面为一项有能力授与光学性质或表面外形几何特性至另一表面上之装置。14. 根据申请专利范围第12项之标的物表面,其中该标的物表面为一片隐形眼镜片。15. 一种藉磨削之光学分解术修饰而成之角膜标的物表面,该分解术包括下列步骤:a)引导一脉冲紫外线放射光束于标的物表面上一预定起始之扫描区域;b)将该光束以远离该预定起始扫描区域之方向扫描至标的物表面之第一端缘;c)关闭该光束之发射;d)将光束移回至标的物表面上之该预定起始扫描区域;以及e)将光束以直接相反于步骤b)中扫描方向之方向自该预定起始扫描区域扫描至相对于该标的物表面第一端缘之另一端缘,俾利整个标的物表面之扫描。图示简单说明:图1描绘出一块未加工之隐形眼镜片之横断面图。虚线为预期最后圆环体面之夸张显示。图2为一项描绘一般性扫描技术(端缘至端缘,edge-to-edge,EE)以供比较用之图示说明。图3为一项描述新颖之中心至端缘(center-to edge,CE)扫描技术之图示说明。图4为一项描述用于CE扫描技术之代表性实验装配之图示。图5为一张说明未经蚀刻之Ultem@sut@sum表面以供比较用之照片。图6为一张显示采用EE技术蚀刻后之Ultem@sut@sum标的物(美国麻州匹兹田市(Pittsfield)通用电气公司产制)其表面之照片。图7为一张显示采用CE技术蚀刻后Ultem@sut@sum标的物( |
