| 主权项 |
1.一种双轴取向积层聚酯薄膜,系由含有润滑颗粒I和II之聚酯层A与层叠在聚酯A之一侧的聚酯层B所组成,其中润滑颗粒I和II含有80-100%比例之非凝聚颗粒;润滑颗粒I之平均粒径为0.3至1.0微米且所包含之数量为0.005重量%或更多但是少于0.1重量%;润滑颗粒II之平均粒径为能满足下式(1):1<dI/dII≦10………(1)式中dI是润滑颗粒I之平均粒径且dII是润滑颗粒II之平均粒径,且所包含之数量为0.1重量%或更多但是少于0.1重量%。2.如申请专利范围第1项之薄膜,其中非凝聚颗粒占润滑颗粒I之85至97%。3.如申请专利范围第1项之薄膜,其中非凝聚颗粒占润滑颗粒II之85至97%。4.如申请专利范围第1项之薄膜,其中润滑颗粒I之平均粒径为0.4至0.8微米。5.如申请专利范围第1项之薄膜,其中润滑颗粒II之平均粒径为能满足下式(2):2≧dI/dII≦8………(2)式中dI和dII是与上式(1)中所定义者相同。6.如申请专利范围第1项之薄膜,其中润滑颗粒I之含量为0.008至0.08重量%。7.如申请专利范围第1项之薄膜,其中润滑颗粒II之含量为0.2至0.5重量%。8.如申请专利范围第1项之薄膜,其中润滑颗粒I和润滑颗粒II是不同类别。9.如申请专利范围第1项之薄膜,其中润滑颗粒I和润滑颗粒II是相同类别,且其结合润滑颗粒I之粒径分布和润滑颗粒II之粒径分布的粒径分布系具有至少两个粒径波峰。10.如申请专利范围第1项之薄膜,其中聚酯层A之外表面具有中心平面平均表面粗糙度AWRa为2至15奈米。11.如申请专利范围第1项之薄膜,其中聚酯层B之外表面具有中心平面平均表面粗糙度BWRa为0.1至0奈米。12.如申请专利范围第1项之薄膜,其中聚酯层A之厚度为0.5至2微米。13.如申请专利范围第1项之薄膜,其厚度为2至10微米。14.如申请专利范围第1项之薄膜,其在彼此垂直的两个方向之阳氏模数为400至2,000公斤/平方毫米。15.一种磁性记录介质,系包含申请专利范围第1项之薄膜的基底薄膜和一在该薄膜之聚酯层A上所形成的磁性记录层。16.如申请专利范围第15项之磁性记录介质,其系一种用于数位记录之磁带。17.如申请专利范围第1项之薄膜之用途,为作为用于磁性记录介质之基层。图式简单说明:第一图显示测定薄膜之移动摩擦系数之设备。 |
