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发明名称 A measuring method for pin-to-pin defect of IC
摘要
申请公布号 KR100622071(B1) 申请公布日期 2006.09.08
申请号 KR20040043859 申请日期 2004.06.15
申请人 发明人
分类号 G01R31/02;G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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