| 发明名称 | 材料的多尺度均匀度分析 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种用于表征材料均匀度的方法，该方法包括：选择用于测量材料的图像的感兴趣区域内的均匀度的一组尺度；抑制图像中小于在一组尺度内所选择的感兴趣尺度的特征；将图像分割成与感兴趣尺度相等的小块；以及计算每个小块内的均匀度值。 | ||
| 申请公布号 | CN105683704A | 申请公布日期 | 2016.06.15 |
| 申请号 | CN201480059714.8 | 申请日期 | 2014.10.16 |
| 申请人 | 3M创新有限公司 | 发明人 | 埃文·J·瑞博尼克;约翰·A·拉姆瑟恩;大卫·D·米勒 |
| 分类号 | G01B11/00(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 梁晓广;关兆辉 |
| 主权项 | 一种用于表征材料均匀度的方法，包括：选择用于测量所述材料的图像的感兴趣区域内的均匀度的一组尺度；抑制所述图像中小于在所述一组尺度内所选择的感兴趣尺度的特征；将所述图像分割成与所述感兴趣尺度相等的小块；以及计算每个小块内的均匀度值。 | ||
| 地址 | 美国明尼苏达州 | ||