芯片测试方法及装置

摘要

本发明公开了一种芯片测试方法及装置。其中，该芯片测试装置包括：测试设备；芯片测试电路板；输入接口，设置在芯片测试电路板上，与测试设备相连接，用于在测试设备和芯片测试电路板之间进行数据传输；控制器，设置在芯片测试电路板上，与待测芯片和输入接口均相连接，控制器用于获取输入接口处的状态指令，并根据状态指令确定对应的测试向量；控制器还用于发送测试向量对应的工作模式至待测芯片，以使待测芯片运行工作模式；控制器还用于获取待测芯片运行工作模式后的工作状态，并根据工作状态确定待测芯片的检测结果。本发明解决了现有技术中，芯片测试装置的兼容性较差的技术问题。

主权项

一种芯片测试装置，其特征在于，包括：测试设备；芯片测试电路板；输入接口，设置在所述芯片测试电路板上，与所述测试设备相连接，用于在所述测试设备和所述芯片测试电路板之间进行数据传输；控制器，设置在所述芯片测试电路板上，与待测芯片和所述输入接口均相连接，所述控制器用于获取所述输入接口处的状态指令，并根据所述状态指令确定对应的测试向量；所述控制器还用于发送所述测试向量对应的工作模式至所述待测芯片，以使所述待测芯片运行所述工作模式；所述控制器还用于获取所述待测芯片运行所述工作模式后的工作状态，并根据所述工作状态确定所述待测芯片的检测结果。