发明名称 基于黑磷/二硫化钼异质结的光探测器
摘要 本发明公开了一种基于黑磷/二硫化钼异质结的光探测器,属于光探测技术领域,解决器件不具有宽光谱、快速、低噪声的响应特性,同时不具有与CMOS工艺兼容、体积小、易于集成和响应光谱范围可调的问题。本发明包括二氧化硅衬底层,二氧化硅衬底层上设置的二硫化钼层,在二硫化钼层的上表面覆盖设置的黑磷导电层,黑磷导电层和二硫化钼构成异质结结构,所述黑磷导电层上设置有第一电极层和第二电极层。本发明用于实现宽光谱、超快响应的光探测器。
申请公布号 CN105679876A 申请公布日期 2016.06.15
申请号 CN201610155951.5 申请日期 2016.03.18
申请人 电子科技大学 发明人 陆荣国;叶胜威;田朝辉;寿晓峰;陈德军;张尚剑;刘永
分类号 H01L31/109(2006.01)I;H01L31/0264(2006.01)I 主分类号 H01L31/109(2006.01)I
代理机构 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人 徐金琼
主权项 一种基于黑磷/二硫化钼异质结的光探测器,其特征在于:包括二氧化硅衬底层(1),二氧化硅衬底层(1)上设置的二硫化钼层(2),在二硫化钼层(2)的上表面覆盖设置的黑磷导电层(3),黑磷导电层(3)和二硫化钼(2)构成异质结结构,所述黑磷导电层(3)上设置有第一电极层(4)和第二电极层(5)。
地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号