| 发明名称 | 一种光器件回波损耗测量方法 | ||
| 摘要 | 一种光器件回波损耗测量方法，包括：步骤1：取一三端口光纤环形器，先在三端口光纤环形器的第二端口接激光光源，在第三端口接标准光功率计，测量其第二端口到第三端口的器件光功率插入损耗；步骤2：再在环形器的第一端口接一激光光源，在第二端口接被测光器件，在第三端口接标准光功率计，测量由被测光器件反射出来的光功率；步骤3：测量光纤环形器第二端口与被测光器件之间结点S的光功率损耗；步骤4：计算出被测光器件的回波损耗。 | ||
| 申请公布号 | CN101329198A | 申请公布日期 | 2008.12.24 |
| 申请号 | CN200710117618.6 | 申请日期 | 2007.06.20 |
| 申请人 | 中国计量科学研究院 | 发明人 | 姚和军;李健;张志新;熊利民;王慧敏 |
| 分类号 | G01J1/00(2006.01);G01J1/10(2006.01) | 主分类号 | G01J1/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汤保平 |
| 主权项 | 1、一种光器件回波损耗测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：取一三端口光纤环形器，先在三端口光纤环形器的第二端口接激光光源，在第三端口接标准光功率计，测量其第二端口到第三端口的器件光功率插入损耗；步骤2：再在环形器的第一端口接一激光光源，在第二端口接被测光器件，在第三端口接标准光功率计，测量由被测光器件反射出来的光功率；步骤3：测量光纤环形器第二端口与被测光器件之间结点S的光功率损耗；步骤4：通过以下公式计算出被测光器件的回波损耗，<math><mrow><msub><mi>R</mi><mi>L</mi></msub><mo>=</mo><mo>-</mo><mn>10</mn><mi>log</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><msub><mi>P</mi><mi>Z</mi></msub><mo>+</mo><msub><mi>P</mi><mrow><mi>B</mi><mo>-</mo><mi>C</mi></mrow></msub><mo>+</mo><msub><mi>P</mi><mi>S</mi></msub></mrow><msub><mi>P</mi><mi>X</mi></msub></mfrac><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo></mrow>其中：RL为被测器件回波损耗；PZ为Z点的输出光功率；PB-C为光环形器第一到第二端口B-C间的光功率传输损耗；PS为熔接点S处的附加光功率传输损耗；PX为X点的输出光功率。 | ||
| 地址 | 100013北京市北三环东路18号中国计量科学研究院光学所 | ||