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发明名称 SYSTEM AND METHOD FOR INSPECTING CCDA IN IMT-2000 BS SYSTEM
摘要
申请公布号 KR20010097409(A) 申请公布日期 2001.11.08
申请号 KR20000021461 申请日期 2000.04.22
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 NOH, JAE UNG
分类号 H04B17/40;(IPC1-7):H04B17/02 主分类号 H04B17/40
代理机构 代理人
主权项
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