发明名称 IC-TESTING APPARATUS
摘要
申请公布号 JPH11248805(A) 申请公布日期 1999.09.17
申请号 JP19980051769 申请日期 1998.03.04
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 NEGISHI TOSHIYUKI
分类号 G01R31/319;G01R23/02;(IPC1-7):G01R31/319 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
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