发明名称 | X射线应力分析仪 | ||
摘要 | 本装置属于材料力学应力分析测试仪器,其电路结构由甄别器、计算机接口板、应力仪的控制电路及PC计算机组成,应力仪的X光光子脉冲输入甄别器,输出再送入计算机接口板,接口板的控制信号来自应力仪控制电路,接口板输出直接联接PC计算机。本实用新型之优点:可以从计数率计的甄别器的输出端以数字量方式采集所射线信息的计算机接口,并将信息送入计算机进行数据处理,数据采集程序提供了连续扫描和定点计数两种工作方式,速度快,精度高,稳定性好,整个装置通用性强,成本低,便于推广。 | ||
申请公布号 | CN2347163Y | 申请公布日期 | 1999.11.03 |
申请号 | CN98239686.4 | 申请日期 | 1998.12.18 |
申请人 | 中国科学院金属研究所 | 发明人 | 李家宝;徐寒冰;李立;刘庆;温井龙;张利祥 |
分类号 | G01N23/00 | 主分类号 | G01N23/00 |
代理机构 | 中国科学院沈阳专利事务所 | 代理人 | 朱光林 |
主权项 | 1.一种X射线应力分析仪,由甄别器、分频器、计数率计、RC平滑及记录仪组成,其特征是本应力分析仪由甄别器、计算机接口电路、应力仪的控制电路及PC算机组成,其联接是应力仪采集的衍射线时,X光光子所产生的脉冲输出与甄别器的输入端联接,甄别器之输出直接与计算机接口电路联接,接口电路的控制端与应力仪的控制电路相接,接口电路的输出与计算机相联接。 | ||
地址 | 110015辽宁省沈阳市沈河区文化路72号 |