| 发明名称 | 实现正相位对比的相位环 | ||
| 摘要 | 本发明涉及由移相的薄层系统组成的一种相位环,此薄层系统在粘结系统的情况下具有一种构造:(第一)衬底－Ag－n<SUB>H</SUB>－粘结剂－(第二)衬底,或具有一种构造:(第一)衬底－n<SUB>1</SUB>－Ag－n<SUB>2</SUB>－粘结剂－(第二)衬底,而在未粘接系统的情况下具有一种构造:衬底－Ag－n<SUB>H</SUB>－空气。以n<SUB>H</SUB>、n<SUB>1</SUB>或n<SUB>2</SUB>表示了一个介电层的各自的折射率。可以有针对性地调定正相位对比的相移。 | ||
| 申请公布号 | CN1244264A | 申请公布日期 | 2000.02.09 |
| 申请号 | CN98801988.4 | 申请日期 | 1998.08.03 |
| 申请人 | 莱卡显微系统韦茨拉尔股份有限公司 | 发明人 | S·阿特－内德韦德科;C·贡克尔 |
| 分类号 | G02B21/14 | 主分类号 | G02B21/14 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 马铁良;王忠忠 |
| 主权项 | 1.用于实现一种正相位对比的相位环，其特征在于，相位环由具有构造：(第一) 衬底-银-nH-粘结剂-(第二)衬底的粘结移相的薄层系统组成，在此银层(Ag)是直接敷设在此第一衬底上的，随后具有折射率nH的一个层跟随此银层，并且在此介于两个衬底之间的间隙是如此地用粘结剂填满的，使得也在nH层和第二衬底之间保留一个贯通的粘结剂网络(图1a)。 | ||
| 地址 | 联邦德国韦茨拉尔 | ||