发明名称 X-ray examination apparatus with means for noise reduction
摘要
申请公布号 EP0578311(B1) 申请公布日期 1998.12.09
申请号 EP19930201922 申请日期 1993.07.01
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 DE JONGE, DIRK JAN ANDRIES;STEGEHUIS, HERMAN
分类号 H04N5/21;H04N5/217;H04N5/32;(IPC1-7):H04N5/21 主分类号 H04N5/21
代理机构 代理人
主权项
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