发明名称 Wafer prober
摘要
申请公布号 GB2284949(B) 申请公布日期 1997.07.09
申请号 GB19940024431 申请日期 1994.12.02
申请人 * TOKYO SEIMITSU CO., LTD. 发明人 TAKASHI * ISHIMOTO
分类号 G01R31/28;G01R1/073;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/28;G01R1/067 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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