发明名称 TEST METHOD OF LOW RESISTOR FOR IN-CIRCUIT TESTER
摘要 <p>본 발명은 3선 방식의 인서키트테스터에서 별도의 하드웨어 수정이나 추가를 하지 않고서도 간단한 소프트웨어를 이용하여 매우 낮은 저항치의 저항기를 검사하는 4선 방식 켈빈측정방법을 적용할 수 있는 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법에 관한 것이다. 이를 위한 본 발명은, 개인용 컴퓨터(1)에서 입출력 인터페이스부(2)를 매개로 신호발생부(9), 신호검출부(10)및 모드설정릴레이(11)로 이루어진 측정부(3)의 제어를 통해 상기 측정부(3)에 3선의 측정선로(H, G, L)로 연결된 멀티플렉서부(4)의 릴레이접점을 선택적으로 접속시킴에 따라 상기 멀티플렉서부(4)에 연결되어 있는 테스트프로브(7)들중 선택된 테스트프로브를 통해 피측정저항의 저항치를 측정하도록 하는 인서키트테스터의 측정방법에 있어서, 상기 개인용 컴퓨터(1)에서 검사하려는 부품의 정보(종류, 테스트 프로브번호 등)를 인터페이스부(2)를 통해 측정부(3)로 전송하는 단계, 상기 부품정보에 의해 측정부(3)의 모드설정릴레이(11)를 동작시켜 피측정저항의 상단에 연결될 측정선로(H)에 정전류원(12)을 연결시킴과 아울러 피측정저항(30)의 하단에 연결될 측정선로(L)를 접지단에 연결하는 단계, 전압계(14)를 측정선로(G)에 연결하고 멀티플렉서부(4)에서 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 상단을 연결하는 릴레이접점을 접속시켜 피측정저항(30) 상단부터 접지단자까지의 전압강하분을 측정하여 일시 저장하는 단계, 상기 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 상단을 연결하는 릴레이접점을 오프시키고나서 상기 측정선로(G)와 피측정저항(30)의 하단을 연결하는 릴레이접점을 접속시켜 피측정저항(30) 하단부터 접지단자까지의 전압강하분을 측정하여 일시 저장하는 단계, 상기 피측정저항(30) 상단에서 측정된 전압강하분에서 상기 피측정저항(30) 하단에서 측정된 전압강하분을 감산하여 실제 피측정저항(30)에 의한 전압강하분을 검출하고, 이로부터 피측정저항(30)에 인가된 정전류값을 나누어 피측정저항(30)의 저항값을 검출한 후 디지털신호로 변환시켜 상기 개인용 컴퓨터(1)로 전송하는 단계, 상기 검출단계를 모든 피측정저항에 대해 반복수행하는 단계를 포함하여 이루어진 발명임.</p>
申请公布号 KR100355716(B1) 申请公布日期 2002.10.12
申请号 KR20010002099 申请日期 2001.01.15
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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