| 摘要 |
<p>Es wird eine Prüfeinrichtung für ein elektronisches Gerät, insbesondere ein elektronisches Überlastrelais beschrieben, bei dem elektrische und elektronische Komponenten (11, 12) auf wenigstens einer in einem Gehäuse untergebrachten Leiterplatte (10) aufgebracht sind. Die Komponenten (11, 12) sind über auf der Leiterplatte (10) befindliche Leiterbahnen (13, 14, 15, 16, 17) mit je einem Kontaktierpunkt (18, 19) elektrisch leitend verbunden. In der Gehäusewandung oberhalb der Leiterplatte (10) sind den Kontaktierpunkten (18, 19) entsprechende Löcher (21, 22) vorgesehen, die direkt oberhalb jeweils eines Kontaktierpunktes (18, 19) liegen und mit diesen fluchten. Weiterhin ist ein Prüfgerät (28) vorgesehen ist, das Prüfstifte (23 bis 27) enthält, die zur Prüfung der Komponenten (11, 12) in alle oder einen Teil der Löcher (21, 22) eingeführt und auf die Kontaktierpunkte (18, 19) aufgedrückt werden können. <IMAGE></p> |
