发明名称 光罩及图样形成方法
摘要 【课题】即使在周期性的图样以外的部分,正确地形成图样。【解决手段】在曝光中,组合并使用:第1光罩,包括真图样,对应于在被加工膜上实际形成的图样,及假图样,被附加以使得光罩内的图样间距位于预定的范围内;与第2光罩,具有一图样,以区分真图样被形成之区域与假图样被形成之区域。在形成图样时,在基板上形成被加工膜之后,在被加工膜上,透过使用第1光罩的微影,形成第1罩幕,在前述被加工膜上,透过使用第2光罩的微影,形成第2罩幕。其后,以第1、第2罩幕作为罩幕,蚀刻被加工膜,以形成图样。
申请公布号 TW200518172 申请公布日期 2005.06.01
申请号 TW093132169 申请日期 2004.10.22
申请人 半导体先端科技股份有限公司 发明人 萩原琢也
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本