发明名称 |
一种GST中性化学机械抛光液 |
摘要 |
本发明涉及化学机械抛光液领域,尤其涉及一种可有效应用于相变材料GST的化学机械抛光。本发明提供一种GST中性化学机械抛光液,以重量百分比计,包括如下组分:二氧化硅抛光颗粒0.2‑30wt%;氧化剂0.01‑5wt%;表面活性剂0.01‑4wt%;余量为pH值调节剂和去离子水;所述GST中性化学机械抛光液的pH值为6‑8。本发明提供的用于相变材料GST的中性化学机械抛光液,所述的经过烷基改性,金属氧化物包裹,胺型改性,无机离子改性等方法改性的SiO2抛光颗粒,在pH值6‑8范围内,zeta电位的绝对值30‑80mv,胶体达到了稳定,从而形成稳定的中性化学机械抛光液。 |
申请公布号 |
CN103897603B |
申请公布日期 |
2016.09.28 |
申请号 |
CN201210586914.1 |
申请日期 |
2012.12.28 |
申请人 |
上海新安纳电子科技有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
发明人 |
闫未霞;王良咏;刘卫丽;宋志棠 |
分类号 |
C09G1/02(2006.01)I |
主分类号 |
C09G1/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
许亦琳;余明伟 |
主权项 |
一种GST中性化学机械抛光液,以重量百分比计,包括如下组分:金属氧化物包裹的二氧化硅抛光颗粒 2‑6wt%;氧化剂 1‑4wt%;表面活性剂 0.05‑2wt%;余量为pH值调节剂和去离子水;所述GST中性化学机械抛光液的pH值为6‑8;所述二氧化硅抛光颗粒在pH值6‑8时其zeta电位绝对值在30‑80mv范围,所述的氧化剂选自铁氰化钾、双氧水和过硫酸铵,所述的表面活性剂选自聚丙烯酸钠。 |
地址 |
201506 上海市金山区金山工业区天工路285弄2幢 |