晶片测试装置

摘要

一种晶片测试装置，适用于对一切割下之单一裸晶安全地进行测试，该晶片测试装置包含一具有复数探针的测试座、一设于该测试座上，用于搭载该裸晶的手测盖，及一设于该手测盖上的压动单元。该手测盖是可搭载该裸晶在一远离该等探针的开放位置及一邻近该等探针的收合位置间移动，当该手测盖是位于该收合位置时，即可藉由该压动单元将搭载有该裸晶的该手测盖进一步地下压，进而使该裸晶与该等探针电连接以供测试之用，本发明提供一小规模、并可安全有效地测试未封装之单一裸晶的方案，进而改善业界中缺乏此类测试治具的问题。