使用指形测试仪测试非元件化大型印刷电路板之方法

摘要

本发明是有关于一种为利用一指形测试仪以测试一具导体路径之大型非元件化电路板的方法。根据按照本发明之方法，将电路板分成数个区段以进行测试，而延伸越于单一区段之导体路径是由在相关区段内之各端点的电容性测量作业(capacitive measurement)所测试，并且对该导体路径之开放电路而决定出属于一导体路径之各电容性测量值的其一所测得数值是否显着地不同于其他所测得数值。