发明名称 闪光灯测试系统及方法
摘要 本发明系关于一种闪光灯测试系统,包括:单晶片,用于计数及处理信号,并根据设置好的拍照频率通知相机中的信号处理单元,指示相机按照此频率发出拍照指令;单晶片的第一计数器记录相机的拍照次数;闪光灯驱动及放电电路,与闪光灯相连接并在单晶片的控制下驱动闪光灯闪动;光敏感测电路,其接收闪光灯的瞬间光信号从而产生暂态脉冲;与单晶片电性连接的脉冲整形电路,上述暂态脉冲输入到脉冲整形电路中,并被整形为标准波形后输入到单晶片;由单晶片的第二计数器对上述标准波形计数,其计数值表示闪光灯闪烁的次数;将第一计数器和第二计数器的计数值做比较,即可得出闪光灯性能的测试结果。
申请公布号 TW200635438 申请公布日期 2006.10.01
申请号 TW094108679 申请日期 2005.03.21
申请人 亚洲光学股份有限公司 发明人 杜维佳;郭一鸣;陈晶
分类号 H05B41/30 主分类号 H05B41/30
代理机构 代理人 刘育志
主权项
地址 台中县潭子乡台中加工出口区南二路22之3号