| 摘要 |
Un système d'analyse, permettant d'analyser directement des échantillons solides par spectroscopie d'émission atomique, utilise une lampe spectrale atomique (1) du type permettant d'analyser un échantillon solide destiné à être disposé de façon démontable pour servir de cathode à la lampe (1), un dispositif (2) permettant de produire une première décharge électrique par pulvérisation cathodique depuis l'échantillon via une connexion (8) et une seconde décharge survoltée en vue de l'émission analytique via une connexion (9), un dispositif d'analyse de la longueur d'onde spectrale (4), destiné à recevoir et à déterminer l'intensité des lignes spectrales émises par la lampe (1), et un dispositif de commande (3) du système, le niveau de courant de la cathode de l'échantillon et le fonctionnement du dispositif d'analyse de longueur d'onde spectrale (4) étant régulés sur la base de la sortie provenant du tube photomultiplicateur (7), de telle sorte que l'intensité des lignes spectrales est maximalisée et la relation entre l'intensité des lignes spectrales et la concentration de l'élément correspondant dans l'échantillon sont maintenues dans une région essentiellement linéaire. |
