发明名称 气源分子束外延生长锗硅异质结双极晶体管材料掺杂方法
摘要 一种气源分子束外延生长锗硅异质结双极晶体管材料掺杂方法,其是用乙硼烷∶磷烷为掺杂剂生长N-P-N双极晶体管材料时,将乙硼烷、磷烷加热使其裂解为低分子量的原子团束流,降低残余硼、磷杂质的本底浓度,并减少氢对硅生长速率的影响;掺硼结束时,速关断乙硼烷气流并降低乙硼烷裂解炉温度,可将硼严格限制在基区内;生长硅发射区时,将磷炉温度升高,可提高磷掺杂浓度并减少磷烷对硅生长速率的影响。
申请公布号 CN1168121C 申请公布日期 2004.09.22
申请号 CN01109415.X 申请日期 2001.03.08
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 黄大定;李建平;高斐;林燕霞;孙殿照;刘金平;朱世荣;孔梅影
分类号 H01L21/223 主分类号 H01L21/223
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1、一种气源分子束外延生长锗硅异质结双极晶体管材料掺杂方法,其特征在于,其方法的步骤是:(1)用乙硼烷、磷烷为掺杂剂生长N-P-N硅/锗硅/硅异质结双极晶体管材料时,将乙硼烷、磷烷通过加热炉使其裂解为低分子量的分子束流,从而降低残余硼、磷杂质的本底浓度,并减少磷烷对硅生长速率的影响;(2)锗硅基区掺硼时,将硼炉温度升至850℃以上,掺硼结束时,迅速关断乙硼烷气流并降低乙硼烷裂解炉温度至450℃以下,可将硼严格限制在基区内,硼浓度可达1-2×1019cm-3;(3)生长硅发射区时,将磷炉温度升至800℃-900℃,磷掺杂浓度可达2×1019cm-3以上,并可减少磷烷对硅生长速率的影响。
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