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发明名称 METHOD FOR MEASURING INSULATION RESISTANCE FOR THIN FILM HEAD
摘要
申请公布号 JPH06342509(A) 申请公布日期 1994.12.13
申请号 JP19930152730 申请日期 1993.05.31
申请人 NEC CORP 发明人 OCHI ICHIRO
分类号 G11B5/31;G11B5/455;(IPC1-7):G11B5/455 主分类号 G11B5/31
代理机构 代理人
主权项
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