发明名称 METHODOLOGY FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS
摘要 집적 회로가 개시된다. 집적 회로는 입력 패드 및 출력 패드, 제 1 회로소자를 갖는 제 1 집적 회로부, 및 제 1 회로소자와는 상이한 제 2 회로소자를 갖는 제 2 집적 회로부를 포함한다. 제 1 집적 회로부는, 입력 테스트 신호를 입력 패드로부터 제 2 집적 회로부로 제공하고, 출력 테스트 신호를 제 2 집적 회로부로부터 출력 패드로 제공하도록 구성되고, 출력 테스트 신호는 입력 테스트 신호에 대한 응답으로 제 2 집적 회로부에 의해 생성된다.
申请公布号 KR20160083086(A) 申请公布日期 2016.07.11
申请号 KR20167014974 申请日期 2014.10.28
申请人 QUALCOMM INCORPORATED 发明人 BHOGELA SAGAR;CYNTHIA DAISY;SRINIVASAN SRIKANTH
分类号 G01R31/28;G01R31/3185 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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