发明名称 Defect detection system and method
摘要 불량 검사 시스템 및 그 방법이 개시된다. 불량 검사 시스템은 검사 대상물을 촬영하여 불량을 검사하는 카메라; 상기 검사 대상물을 사이에 두고 상기 카메라와 대면하는 위치에 배치되는 제1 광원부와 제2 광원부; 및 상기 제1 광원부와 상기 제2 광원부의 온도에 기반하여 상기 제1 광원부와 상기 제2 광원부를 교번으로 동작되도록 제어하는 컨트롤러를 포함한다.
申请公布号 KR20160133228(A) 申请公布日期 2016.11.22
申请号 KR20150066017 申请日期 2015.05.12
申请人 SEMISYSCO CO., LTD. 发明人 LEE, SOON JONG;WOO, BONG JOO;PARK, HYEON IL;WON, JUN YEON
分类号 G01N21/88;G01N21/958 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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